书目详细信息
： C/C++程序缺陷与优化
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-22632-8:CNY49.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | C/C++程序缺陷与优化/.于秀山 ... [等] 编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2014 |
| 载体形态项： | 273页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 程序设计可谓是一个汗牛充栋的话题。与传统的C/C++程序设计方面的书籍不同, 本书从另外一个视角--程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。本书从作者所从事的软件测试项目中精选了与C/C++语言有关的程序缺陷, 主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷, 通过实例分析了缺陷产生的原因, 并给出了具体的修改和优化方法。面对这些缺陷, 程序员会有一种似曾相识、相见恨晚的感觉。通过这些缺陷, 程序员能够跳出固有的程序设计思维定式, 使其翻然醒悟, 茅塞顿开。 |
| 题名主题： | C语言 程序设计 |
| 中图分类： | TP312C |
| 个人名称等同： | 于秀山 编著 |
| 记录来源： | CN WHSX |